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廣州富瑞博科技有限公司
瑞士CSM納米壓痕測試儀(NHT2)
瑞士CSM 納米壓痕測試儀(NHT2)
符合 ISO 與 ASTM 國際標準
儀器簡介:
CSM NHT2 (NHT第二代)納米壓痕測試儀采用了UNHT(CSM超納米壓痕儀)的技術,其靈敏度及噪音水平和穩定性得以顯著提高。采用的top reference(表面參比測試技術)設計, NHT2 納米壓痕儀將熱漂移效應(thermal drift)降低到了0.02nm/s的水平。客戶不需要軟件模擬近似扣除即可獲得可靠、穩定的數據,也不需要長期甚至隔夜的穩定時間,對實驗室的環境要求大為降低。
儀器應用:
NHT2 納米壓痕儀主要用于測量納米尺度的硬度與彈性模量,可以用于研究或測試薄膜等納米材料的接觸剛度、蠕變、彈性功、塑性功、斷裂韌性、應力-應變曲線、疲勞、存儲模量及損耗模量等特性。可適用于有機或無機、軟質或硬質材料的檢測分析,包括PVD、CVD、PECVD薄膜,感光薄膜,彩繪釉漆,光學薄膜,微電子鍍膜,保護性薄膜,裝飾性薄膜等等?;w可以為軟質或硬質材料,包括金屬、合金、半導體、玻璃、礦物和有機材料等。
主要特點:
的參比環設計-實時消除大部分熱漂移
帶有反饋系統的載荷加載系統
靈活的試樣夾具可夾持各種尺寸試樣(無需用膠粘結試樣)
高質量金相顯微鏡觀測系統
計算機軟件包,自動進行數據獲取、儲存、分析等
豐富、靈活的擴展空間
技術參數:
載荷范圍:0-500mN
載荷分辨率:40nN
壓入深度:200um
位移分辨率: 0.004nm
選件:
其它力學測試模塊(如微納米劃痕、超納米壓痕等)
真空及環境(溫度、濕度)控制
原子力顯微鏡成像系統
環境隔離罩
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