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廣州市淘儀貿易有限公司
無以倫比的控制和性能,具有固有的位移控制,位移范圍從
The Hysitron PI 89 掃描電鏡聯用納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡(SEM、FIB/SEM)的**成像能力,可以在成像的同時進行定量納米力學測試。這套全新系統搭載 Bruker *的電容傳感技術,繼承了**市場的**批商業化原位 SEM 納米力學平臺的優良功能。該系統可實現包括納米壓痕、拉伸、微柱壓縮、微球壓縮、懸臂彎曲、斷裂、疲勞、動態測試和力學性能成像等功能。
Hysitron PI 89的緊湊設計允許*大的樣品臺傾斜,以及測試時成像的*小工作距離。PI 89為研究者提供了比競爭產品更廣闊的適用性和性能:
Hysitron PI 89利用布魯克的亞納米尺度傳感器和壓電力驅動結構實現真正的位移控制和載荷控制測試:
Hysitron PI 89獲得的原位力學測試結果與SEM成像同步且并列顯示。這使得用戶能觀察到缺陷、應變、熱/電刺激對于工程材料性能、壽命和耐久性從納米到微米尺度的影響。這種同步實現更多的分析:
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