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深圳喬邦儀器有限公司
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XU-100X熒光光譜測厚儀高精尖檢測技術，搞定企業品質管控！XU-100光譜測厚儀采用下照式C型腔體設計，搭配微聚焦X射線發生器和高集成垂直光路系統，以及高敏變焦測距裝置，對各種大小異形件都可快速、精準、無損測量
XU-100 X熒光光譜測厚儀
高精尖檢測技術，搞定企業品質管控！
XU-100光譜測厚儀采用下照式C型腔體設計，搭配微聚焦X射線發生器和高集成垂直光路系統，以及高敏變焦測距裝置，對各種大小異形件都可快速、精準、無損測量。 檢測各種金屬鍍層，檢出限可達0.005μm，最小測量面積0.2mm²，凹槽深度測量范圍可達0-30mm，是一款測量鍍層厚度性價比高、適用性強的機型。
應用行業：
電鍍層分析
緊固件行業
五金行業
汽車零部件
配飾厚度分析
電子元器件
……
常見樣品：
緊固件 ZnAl/Fe、Zn/Fe、ZnNi/Fe
五金制品 Sn/Cu/Fe、Ni/Cu、Ni/Cu/Fe
電子元器件 Sn/Ni/Fe、Au/Ni/Cu、Ag/Cu
汽車零部件Zn/Fe、ZnNi/Fe、ZnAl/Fe、Cr/Ni/Cu/ABS
配飾首飾 Au/Pd/925Ag、Rh/Pd/Cu、18KAu/Pd/Cu
散熱片NiP/Al
……
為什么選擇XU-100？
1.下照式設計
可以快速方便地定位對焦樣品。
2.高精密微型移動滑軌
快速精準定位樣品。
3. 微焦X射線裝置
最小檢測面積可達0.2mm²的樣品，可進行各類電鍍層膜厚檢測。
高效率正比接收器即使測試0.2mm²的樣品，幾秒鐘也能達到穩定性。
4. 變焦裝置算法
可對各種異形凹槽進行檢測，凹槽深度測量范圍可達0-30mm。
5.的EFP算法
多層多元素，包括有同種元素在不同涂鍍層的檢測，都可以快、準、穩的做出數據分析。
最小檢測面積可達0.01mm²
凹槽深度范圍0-30mm
移動精度10μm
最近測距光斑擴散度10%
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