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行業產品

  • 行業產品

陜西博微電通科技有限責任公司


  • 浪涌電流測方波 +正弦波3000A/100μm-10ms

    詳細摘要： BW-IFSM/ITSM（方波 100μm-10ms/＜1000A,正弦波 100μm-10ms/＞3000A）可加熱是SIC相關半導體器件測試的重要檢測設備，...

    產品型號：BW-ITSM所在地：西安市更新時間：2025-03-11 在線留言

  • 半導體光耦/晶振/壓敏綜合測試系統

    詳細摘要： BW-4022C半導體光耦/晶振/壓敏綜合測試系統是針對于半導體器件開發專用測試的系統，經我公司產品升級與開發，可以對二極管、光電耦合器、壓敏電阻、鋰亞電池、晶...

    產品型號：BW-4022C所在地：西安市更新時間：2025-03-10 在線留言

  • BW-JYJX-QCX 半導體教學實訓儀器與器材

    詳細摘要： BW-JYJX-QCX系列半導體教學培訓實驗臺廣泛應用于高校、研究所機構以及大型半導體生產廠家半導體課程教學實訓、研究、考核等應用；根據不同實訓教學目的配備相應...

    產品型號：所在地：西安市更新時間：2024-11-27 在線留言

  • 半導體教學實訓器材/探針臺/光學顯微鏡

    詳細摘要： BW-JYJX-QCX系列半導體教學培訓實驗臺廣泛應用于高校、研究所機構以及大型半導體生產廠家半導體課程教學實訓、研究、考核等應用；根據不同實訓教學目的配備相應...

    產品型號：BW-JYJX-TZX所在地：西安市更新時間：2024-11-27 在線留言

  • 高精度半導體分立器件測試系統

    詳細摘要： BW-4022A 針對Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等高精度靜態參數包括導通、關斷、擊穿、漏電、增益等直流參數進...

    產品型號：BW-4022A所在地：西安市更新時間：2024-07-15 在線留言

  • 半導體雪崩耐量測試儀

    詳細摘要： 可用于各類二極管（Diode）以及可控硅（SCR）的正向浪涌電流（IFSM）試驗，包括三極管（Triode）、MOSFTE、IGBT等全控器件的內置二極管的浪涌...

    產品型號：BW-UIS-3500所在地：西安市更新時間：2024-06-21 在線留言

  • 車規級功率器件熱循環負載試驗臺

    詳細摘要： BW-TRL2000車規級功率器件熱循環負載試驗臺是一種二極管熱循環負載試驗系統,廣泛應用于車規級半導體器件高溫、高濕、高壓、滿載等功率循環可靠性間歇壽命測試，...

    產品型號：BW-TRL2000所在地：西安市更新時間：2024-03-07 在線留言

  • 半導體高精度自動溫度實驗系統

    詳細摘要： BW-AH-5520半導體高精度自動溫度實驗系統采用特殊的結構設計，保證待測元器件區域溫度高穩定度及均勻度。采用雙高精度 RTD 溫度傳感器進行精密控溫及過溫保...

    產品型號：BW-AH-5520所在地：西安市更新時間：2024-03-07 在線留言

  • 晶體管光耦參數測試儀(雙功能版)

    詳細摘要： BW-3010B型光藕參數測試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器和光電傳感器的功能和參數測試及參數"合格/不合格"(OK/NO)判斷測試，BW-3010B為各...

    產品型號：BW-3010B所在地：西安市更新時間：2024-03-07 在線留言

  • 二極管浪涌測試系統

    詳細摘要： 可用于各類二極管（Diode）以及可控硅（SCR）的正向浪涌電流（IFSM）試驗，包括三極管（Triode）、MOSFTE、IGBT等全控器件的內置二極管的浪涌...

    產品型號：BW-IFSM/ITSM所在地：西安市更新時間：2024-03-06 在線留言

  • 半導體高溫高濕反偏實驗系統

    詳細摘要： 適用于各種封裝類型的二極管、三極管、SCR、MOSFET（支持耗盡型產品）、IGBT 單管、IGBT 模塊、IPM 模塊、橋堆等進行高溫高濕反偏試驗試驗線路及試...

    產品型號：BW-H3TRB-C16所在地：西安市更新時間：2024-01-10 在線留言

  • 半導體間歇壽命功率循環實驗系統

    詳細摘要： 適用于各種封裝的IGBT、Si/SiC/GaN、MOSFET、BTJ進行K系數測試、穩態熱阻測試及功率循環試驗試驗線路及試驗方法滿足 MIL-STD-750 M...

    產品型號：BW-IOL-X16M所在地：西安市更新時間：2023-12-23 在線留言

  • 半導體高加速溫濕度應力試驗系統

    詳細摘要： 適用于 SI/SIC/GaN 芯片的各種封裝類型的二極管、三極管、SCR、MOSFET、IGBT、IPM、橋堆等半導體器件進行 HAST 試驗。符合JESD22...

    產品型號：BW-HAST-H4所在地：西安市更新時間：2023-12-23 在線留言

  • 晶體管分立器件測試系統

    詳細摘要： BWDT-3022A 型晶體管直流參數測試儀可測試三極管、MOS 場效應管、J 型場效應管、整流二極管、三端肖特基整流器、三端電壓穩壓器和基準器 TL431,為...

    產品型號：BW-3022A所在地：西安市更新時間：2023-12-23 在線留言

  • 晶體管光耦參數測試儀

    詳細摘要： BW-3010A型光藕參數測試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器和光電傳感器的功能和參數測試及參數"合格/不合格"(OK/NO)判斷測試，BW-3010A為各...

    產品型號：BW-3010A所在地：西安市更新時間：2023-12-23 在線留言

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