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FE-300otsukael膜厚監測儀 膜厚測量儀 紫外光譜儀
參考價: 220000
訂貨量: 100
具體成交價以合同協議為準
  • FE-300 產品型號
  • 其他品牌 品牌
  • 經銷商 廠商性質
  • 深圳市 所在地

訪問次數:1284更新時間:2023-04-14 16:19:24

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產品簡介
產地 國產
otsukael膜厚監測儀 膜厚測量儀FE-300的介紹
這是一款小型、低成本的膜厚測量儀,可通過高精度光學干涉測量法實現易于操作的膜厚測量。
我們采用一體式外殼,將必要的設備存儲在主機中,實現了穩定的數據采集。
產品介紹

otsukael膜厚監測儀 膜厚測量儀FE-300的介紹

otsukael膜厚監測儀 膜厚測量儀FE-300的介紹


這是一款小型、低成本的膜厚測量儀,可通過高精度光學干涉測量法實現易于操作的膜厚測量。
我們采用一體式外殼,將必要的設備存儲在主機中,實現了穩定的數據采集

特征
  • 支持從薄到厚的廣泛薄膜厚度

  • 使用反射光譜的膜厚度分析

  • 緊湊、低成本、非接觸、無損、高精度測量

  • 簡單的條件設置和測量操作!任何人都可以輕松測量薄膜厚度

  • 使用峰谷法、頻率分析法、非線性最小二乘法、化法等,可以進行廣泛的膜厚測量。

  • 光學常數分析(n:折射率,k:消光系數)可以通過非線性最小二乘法的膜厚分析算法進行。

測量項目
  • 絕對反射率測量

  • 薄膜厚度分析(10層)

  • 光學常數分析(n:折射率,k:消光系數)

 

測量對象
  • 功能性薄膜、塑料
    透明導電薄膜(ITO、銀納米線)、相位差膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、膠粘劑、粘合劑、保護膜、hard Coat、抗指紋代理等

  • 半導體
    化合物半導體、Si、氧化膜、氮化膜、Resist、SiC、GaAs、GaN、InP、InGaAs、SOI、Sapphire等。

  • 表面處理
    DLC涂層、防銹劑、防霧劑等。

  • 光學材料
    濾光片、增透膜等

  • FPD
    LCD(CF、ITO、LC、PI)、OLED(有機薄膜、密封膠)等

  • 其他
    HDD、磁帶、建材等





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