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目錄:廣電計量檢測集團(tuán)股份有限公司>>元器件篩選及失效分析>>軌道交通類>> 軌道交通電子元器件失效分析

軌道交通電子元器件失效分析
  • 軌道交通電子元器件失效分析
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
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具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 廣電計量
  • 型號
  • 廠商性質(zhì) 工程商
  • 所在地 廣州市
屬性

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更新時間:2024-11-06 08:31:24瀏覽次數(shù):977評價

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李女士

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服務(wù)區(qū)域 全國 服務(wù)資質(zhì) CMA/CNAS
服務(wù)費(fèi)用 視具體項(xiàng)目而定 服務(wù)周期 常規(guī)5-7個工作日
廣電計量軌道交通電子元器件失效分析是指借助各種測試分析技術(shù)和方法確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象,分辨其失效模式和失效機(jī)理,確認(rèn)失效根因,提出設(shè)計和工藝改進(jìn)建議,防止失效的重復(fù)出現(xiàn),提高元器件可靠性的有效手段。

服務(wù)范圍

廣電計量軌道交通電子元器件失效分析服務(wù)范圍:IGBT、IC集成電路、微機(jī)電器件

檢測標(biāo)準(zhǔn)

廣電計量軌道交通電子元器件失效分析檢測標(biāo)準(zhǔn):GJB548微電子器件試驗(yàn)方法和程序

檢測項(xiàng)目

(1)常見檢測項(xiàng)?:3DX 射線檢查、聲學(xué)掃描檢查、開封、IC 取芯片、芯片去層、襯底檢查、掃描電鏡檢查、PN結(jié)染?、DB FIB、熱點(diǎn)檢測、漏電位置檢測、彈坑檢測、粗細(xì)撿漏、ESD 測試

(2)常見失效模式分析:靜電損傷、過電損傷、鍵合異常、封裝異常、散熱異常、電參數(shù)漂移

相關(guān)資質(zhì)

CNAS

服務(wù)背景

隨著動車及高速列車電控性能的提升,其使用的電子元器件占比越來越高。一方面,為保證動車及高速列車的運(yùn)行可靠性,需要對所使用的電子元器件進(jìn)行充分的性能摸底,以熟悉產(chǎn)品性能及預(yù)期壽命。另一方面,列車運(yùn)行過程中一旦出現(xiàn)電子元器件失效,將可造成災(zāi)難性的損失;而為滿足電子元器件高功率、高負(fù)載、高性能的要求,列車上多使用進(jìn)口集成電路芯片,因檢測手段匱乏、分析方法空白,其失效問題常常受制于國外供應(yīng)商。

我們的優(yōu)勢

廣電計量通過與華為、海思等國內(nèi)集成電路芯片廠的深度合作,不斷提高自身芯片類檢測硬件實(shí)力及分析軟件實(shí)力。具備分析芯片14nm及以上工藝能力,同時可以將問題鎖定在具體芯片層或者um范圍內(nèi)。



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