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廈門同昌源電子有限公司
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用途:測量納米尺度的硬度與模量，可以用于研究或測試薄膜等納米材料的接觸剛度、蠕變、彈性功、塑性功、斷裂韌性。應力-應變曲線、疲勞、存儲模量及損耗模量等特性。
用途:測量納米尺度的硬度與模量，可以用于研究或測試薄膜等納米材料的接觸剛度、蠕變、彈性功、塑性功、斷裂韌性。應力-應變曲線、疲勞、存儲模量及損耗模量等特性。
型號:Hysitron TI 980 Tribolndenter、Hysitron TI PremierHysitron TS 77 Select等
基本參數:
●溫度腔:零下150°C至高于800℃，濕度控制:可達80%R.H
●溫漂(<0.05 nm/s)，力噪音<20 nN，位移噪音<0.1 nm
●控制器反饋速率78 kHz，采樣速率38 kHz
●原位SPM定位功能具有水平方向<+10 nm的定位精度
●壓頭與樣品臺之間超過50 mm距離
功能模塊:
基本功能:納米壓痕、納米劃痕，摩擦磨損、原位SPM
高級功能:性能成像、納米動態力學、空間力學分布、超快速測試
技術優勢:
●的XPM快速壓痕技術
●軟件自帶批處理功能，批量數據分析功能
●系統自校功能(針尖面積函數、傳感器、光學系統等)
●多功能樣品臺
●超長探針設計，自動探針更換等
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