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深圳九州工業(yè)品有限公司
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WS-3000napson探頭測量儀 電阻計 熱電阻 電阻測量機
| 參考價: | ￥ 260000 |
| 訂貨量: | 100臺 |
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)- WS-3000 產(chǎn)品型號
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訪問次數(shù)：520更新時間：2023-04-15 08:47:11
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產(chǎn)品簡介
可安裝 4 種探頭的探頭更換機構(gòu)無需為每個測量樣品更換探頭。
通過雙模式高精度測量高達 1mm 的邊緣
高速測量帶來的成本優(yōu)勢
FOUP 裝載口，兼容 GEM/SECS
產(chǎn)品介紹
napson探頭測量儀 電阻計 熱電阻 電阻測量機WS-3000的介紹
napson探頭測量儀 電阻計 熱電阻 電阻測量機WS-3000的介紹
產(chǎn)品特點
可安裝 4 種探頭的探頭更換機構(gòu)無需為每個測量樣品更換探頭。
通過雙模式高精度測量高達 1mm 的邊緣
高速測量帶來的成本優(yōu)勢
FOUP 裝載口，兼容 GEM/SECS
測量規(guī)格
測量對象
半導(dǎo)體及太陽能電池材料（硅、多晶硅、SiC等）
導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬、ITO等）
擴散樣品
硅基外延、離子注入樣品
其他（*請聯(lián)系我們）
測量尺寸
12英寸
（選項；200mm組合使用）
測量范圍
[薄層電阻] 1m 至 10MΩ/sq
產(chǎn)品特點
4探針半自動玻璃基板薄膜測量儀
XY軸機構(gòu)臺
面內(nèi)多點測量，均勻間距或隨機間距設(shè)置選擇，配備2-D/3-D繪圖軟件
測量規(guī)格
測量對象
半導(dǎo)體及太陽能電池材料（硅、多晶硅、SiC等）
新材料/功能材料（碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等）
導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬、ITO等）
擴散樣品硅基薄膜（LTPS等）、IGZO
硅基外延、離子注入樣品
化合物半導(dǎo)體（GaAs、Epi、GaN、Epi、InP、Ga等）
其他（*請聯(lián)系我們）
測量尺寸
最大300×300mm（可選；最大500×500mm）
測量范圍
[電阻率（比電阻）] 1 m 至 200 Ω cm
[薄層電阻] 1 m 至 1,000 k Ω/sq（選項；高達 10 M Ω/sq
產(chǎn)品特點
具有大電阻測量范圍的 4 探頭測量儀
用于圓形/方形測量的測量模式可編程和映射軟件
自檢功能、厚度/周邊位置/溫度校正功能（針對硅）
根據(jù)電阻范圍從 2 種類型的測試儀中選擇
(RT-3000(S)：寬測量范圍，RT-3000(H)：高電阻測量范圍)
測量規(guī)格
測量對象
半導(dǎo)體及太陽能電池材料（硅、多晶硅、SiC等）
新材料/功能材料（碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等）
導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬、ITO等）
擴散樣品
硅薄膜（LTPS等）、IGZO
硅基外延、離子注入樣品
其他（*請聯(lián)系我們）
測量尺寸
~8 英寸或 ~156x156mm
?選項（用于大直徑尺寸：型號 RG-3000）：最大 12 英寸，最大 210 x 210 毫米
測量范圍
①RT-3000(S);
[電阻率(電阻率)] 100μ~1MΩ?cm
[方塊電阻] 1m~10MΩ/sq
②RT-3000(H);
[方塊電阻] 10m~1GΩ/sq
產(chǎn)品特點
4探針半自動玻璃基板薄膜測量儀
XY軸機構(gòu)臺
面內(nèi)多點測量，均勻間距或隨機間距設(shè)置選擇，配備2-D/3-D繪圖軟件
相關(guān)產(chǎn)品
-
￥60000
