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目錄:廣電計(jì)量檢測集團(tuán)股份有限公司>>元器件篩選及失效分析>>光電器件及傳感器>> AD/DA轉(zhuǎn)換器電性能測試,性能限度檢測

AD/DA轉(zhuǎn)換器電性能測試,性能限度檢測
  • AD/DA轉(zhuǎn)換器電性能測試,性能限度檢測
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 廣電計(jì)量
  • 型號
  • 廠商性質(zhì) 工程商
  • 所在地 廣州市
屬性

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更新時間:2024-11-06 08:24:55瀏覽次數(shù):918評價

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服務(wù)區(qū)域 全國 服務(wù)周期 開發(fā)周期:4-8周;常規(guī)測試周期:3-5個工作日
服務(wù)資質(zhì) CMA/CNAS 服務(wù)費(fèi)用 視具體項(xiàng)目而定
AD/D轉(zhuǎn)換器是將數(shù)字量轉(zhuǎn)換為模擬量的電路,主要用于數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)、自動測試設(shè)備、醫(yī)療信息處理、電視信號的數(shù)字化、圖像信號的處理和識別、數(shù)字通信和語音信息處理等。對AD/DA轉(zhuǎn)換器電性能測試,性能限度檢測,是提高企業(yè)產(chǎn)品質(zhì)量的保證。越復(fù)雜的生產(chǎn)場景對AD/DA轉(zhuǎn)換器芯片的可靠性越高,電性能測試是檢驗(yàn)AD/DA芯片功能性能可靠性的主要手段。

服務(wù)內(nèi)容

廣電計(jì)量AD/DA轉(zhuǎn)換器電性能測試,性能限度檢測目前已實(shí)現(xiàn)12位AD/DA轉(zhuǎn)換器芯片電性能測試程序的開發(fā)。

服務(wù)范圍

數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)、自動測試設(shè)備、醫(yī)療信息處理、電視信號的數(shù)字化、圖像信號的處理和識別、數(shù)字通信和語音信息處理等將數(shù)字量和模擬量互相轉(zhuǎn)換電路的儀器設(shè)備。

檢測標(biāo)準(zhǔn)

SJ 20961-2006 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理。

檢測項(xiàng)目

AD/DA轉(zhuǎn)換器芯片電性能測試及程序開發(fā),其中測試技術(shù)指標(biāo):

(1)A/D轉(zhuǎn)換器參數(shù)符號及名稱

 image.png

(2)D/A轉(zhuǎn)換器參數(shù)符號及名稱

image.png

相關(guān)資質(zhì)

CMA、CNAS

測試周期

AD/DA轉(zhuǎn)換器電性能測試,性能限度檢測開發(fā)周期:4-8周;常規(guī)測試周期:3-5個工作日。

服務(wù)背景

在現(xiàn)代工業(yè)化社會中,工業(yè)的生產(chǎn)場景涉及到方方面面與計(jì)算機(jī)協(xié)同生產(chǎn)的需求。在數(shù)字系統(tǒng)的應(yīng)用中,通常要將一些被測量的連續(xù)變化的物理量通過傳感器送到數(shù)字系統(tǒng)進(jìn)行加工處理,經(jīng)過處理獲得的輸出數(shù)據(jù)又要送回物理系統(tǒng),對系統(tǒng)物理量進(jìn)行調(diào)節(jié)和控制。

在實(shí)際生產(chǎn)場景中,是由設(shè)備的傳感器對生產(chǎn)過程中產(chǎn)生的電壓、電流、壓力、溫度、位移、流量等的實(shí)時改變進(jìn)行記錄并轉(zhuǎn)換成模擬電信號。傳感器輸出的模擬電信號需轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(計(jì)算機(jī)內(nèi)部需要的離散數(shù)字量,即二進(jìn)制數(shù)、十進(jìn)制數(shù)等),數(shù)字系統(tǒng)才能對模擬信號進(jìn)行處理。這種模擬量到數(shù)字量的轉(zhuǎn)換稱為模-數(shù)(A/D)轉(zhuǎn)換。處理后獲得的數(shù)字量有時又需轉(zhuǎn)換成模擬量返回到實(shí)際生產(chǎn)場景中指引設(shè)備進(jìn)行后續(xù)工作,這種轉(zhuǎn)換稱為數(shù)-模(D/A)變換。

A/D轉(zhuǎn)換器(Analog to Digital Converter簡稱為ADC)和D/A轉(zhuǎn)換器(Digital to Analog Converter簡稱為DAC)是數(shù)字系統(tǒng)和模擬系統(tǒng)的接口電路。通過A/D和D/A兩個方向的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換,即可實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)設(shè)備與計(jì)算機(jī)的協(xié)同生產(chǎn),如汽車流水線上的機(jī)械手和雷達(dá)。

越復(fù)雜的生產(chǎn)場景對AD/DA轉(zhuǎn)換器芯片的可靠性越高,電性能測試是檢驗(yàn)AD/DA芯片功能性能可靠性的主要手段。

我們的優(yōu)勢

廣電計(jì)量聚焦集成電路失效分析技術(shù),擁有業(yè)界專家團(tuán)隊(duì)及先進(jìn)的失效分析設(shè)備,可為客戶提供完整的失效分析檢測服務(wù),幫助制造商快速準(zhǔn)確地定位失效,找到失效根源。同時,我們可針對客?的研發(fā)需求,提供不同應(yīng)?下的失效分析咨詢、協(xié)助客戶開展實(shí)驗(yàn)規(guī)劃、以及分析測試服務(wù),如配合客戶開展NPI階段驗(yàn)證,在量產(chǎn)階段(MP)協(xié)助客戶完成批次性失效分析。

常見問題

Q:AD/DA轉(zhuǎn)換器電性能測試常見誤差有哪些?

A:零點(diǎn)誤差、增益誤差、差分非線性誤差及積分非線性誤差。


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