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北京光量科技有限公司
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508PV顯微鏡光譜儀是為了將的光譜探測，彩色成像，薄膜厚度測量，色度測量功能添加到顯微鏡或探針臺而設計的
508PV顯微鏡光譜儀是為了將的光譜探測，彩色成像，薄膜厚度測量，色度測量功能添加到顯微鏡或探針臺而設計的。它也可以升級成一個配備了的光學器件，電路設計和操作軟件的顯微分光光度計。
508PV附著在一個打開的照相接口上，可用于收集顯微樣品的透射，反射，偏振，甚至熒光和冷光光譜。搭載CRAIC的Lightblades光譜技術，508PV的可用光譜范圍涵蓋了從紫外到近紅外。使用508PV，用戶可以快速，無損，便捷的獲得亞微米樣品的高質量光譜。
508PV顯微鏡光譜儀是諸如平板顯示像素色度測量，煤鏡質組和源巖反射測量，光學器件和半導體的薄膜厚度測量等多種應用的理想選擇。508PV也是一個將舊顯微分光光度計升級至硬件的高性價比途徑。
主要特性：
? 配備Lightblades分光光度計，專為顯微光譜設計
? 用戶選擇光譜范圍從深紫外到近紅外
? 光譜范圍250nm-2100nm
? 校準，變量測量區域小到一微米以下
? 熱電制冷以提高信噪比和長期穩定性
? 高分辨率彩色成像，提升至五百萬像素
? 配備Lambdafire光譜和成像控制分析軟件，Lambdafire也包括觸摸屏控制。
? 紫外-可見-近紅外透射顯微光譜
? 紫外-可見-近紅外反射顯微光譜
? 紫外-可見-近紅外熒光顯微光譜
? 薄膜厚度測量
? 顯微樣品的色度測量
? 結合rIQ進行折射率測量
? 自動化運行
? 樣品溫度的精確控制
? 專業的軟件模塊，包括統計分析，光譜數據庫，成像分析等
? NIST可追溯顯微分光光度計標準
? 易于使用和維護
? 來源于顯微光譜領域專家
紫外-可見-近紅外顯微光譜
為您的顯微鏡增加一個光譜儀
508PV是一個光譜儀，集成了一個成像系統，它可通過一個照相接口，添加到微鏡或探針臺中。508PV可配置工作范圍從深紫外到可見到近紅外，這個強有力的工具給系統賦予新的功能，包括膜厚度測量和色度測量。508PV搭載Lightblades技術，即便尺寸在亞微米樣品的透射，反射，偏振，熒光光譜也能測量。
熒光
顯微熒光測定
進對508PV進行一定配置，可獲得顯微樣品的熒光和冷光光譜和成像。搭載Lightblades技術，從深紫外到近紅外的熒光和冷光光譜的測定能力，使得508PV成為材料科學，生物，地理等學等學科中測量顯微熒光的有力工具。
偏振顯微光譜
對508PV進行一定配置，可獲得顯微樣品的偏振光譜。搭載Lightblades技術，使得508PV偏振顯微光譜儀可快速便捷的獲得具有雙折射或其他類型偏振特性的樣品的光譜。
光譜表面Mapping繪圖
結合硬件和軟件對具有微觀空間分辨率的樣品進行自動光譜分析，可生成樣品的吸收，透射，反射，熒光，發射和拉曼光譜的5D繪圖。
成像&顯微鏡
508 PV™具有高分辨率，彩色數字成像與復雜的軟件。它可以讓你同時看到分光光度計的入口孔徑和樣品。這使得在任何測量條件下都可以很容易地對齊測量用的樣本并捕獲全彩圖像。
應用
? 半導體膜厚
? MEMS器件
? 表面等離子體共振
? 光子帶隙晶體
? 過程雜質檢測
? 蛋白質晶體
? 法醫學
? 藥物化學
? 可疑文件
? 有機發光器件
? 平板彩色面具
? 組合化學
支持
CRAIC Technologies為的CRAIC設備提供服務和支持。CRAIC Technologies服務工程師對CRAIC Technologies產品提供的設備修理，維護，培訓和技術支持。
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