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上海錦錨工業科技有限公司
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宇問EC-770X大量程涂層測厚儀一、二、產品特色 采用雙核處理架構，32位ARM處理器，顯著提升運算效率
宇問 EC-770X大量程涂層測厚儀
一、
二、產品特色
采用雙核處理架構，32位ARM處理器，顯著提升運算效率；
采用128*128高分辨率點陣液晶；
可達10000微米超寬測量范圍；
可達1%超高精度；
大點陣液晶屏，標準化菜單操作；
超限紅色背光報警；
屏幕旋轉倒置功能；
兩種測量模式：單次（Single)和連續(Continuous)；
兩種組模式：直接組(DIR)和通用組(GEN),一個直接組和四個通用組，每組可存儲500個數據；一共2000個數據。
可零校準，擁有全自動校準算法，省去人工反復校準；
用戶可隨時查看當前工作組已測得的數據，并刪除數據或整組數據；
實時顯示當前工作組統計值：平均值(Mean),最小值(Min)，值(Max),標準方差(Sdev)；
三種探頭模式: 自動(Auto)、磁感應(Magnetic)和渦流(Eddy Current)；
可為各組單獨設置高低限報警值，超屏幕指示報警；
可開啟或關閉自動關機功能；
USB接口可傳輸通用組數據到計算機；
低電和錯誤提示；
適合惡劣條件使用；
三、應用場景
本儀器能無損傷、快速、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。它能廣泛應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域，是材料表面處理工程的儀器。它可以穩定地工作于實驗室、車間現場和戶外。
四、產品描述
EC-770X涂層測厚儀，能同時測量磁性基材表面（如鋼、鐵等）的非磁性涂鍍層（如油漆、陶瓷、鉻等），以及非磁性金屬基材表面的非導電涂鍍層（如油漆等）。本儀表內置高精密雙探頭，利用電磁感應和渦流效應，全自動探測基材屬性，計算涂鍍層厚度，并通過點陣液晶快速顯示結果。同時，測量數據可分組保存，并實時顯示統計值。用戶可分別為每組設置上下限報警值、零校準。全新的零校準，讓您非常方便的隨時進行校準。標準化菜單，確保您非常容易的使用它。
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