国内精品久久,小茹和小黄狗,日韩熟妇被干视频,亚洲国产精品免费线观看

秋山科技(東莞)有限公司
中級會員 | 第6年

18922517093

當前位置:首頁   >>   資料下載   >>   日本snk表面附著異物可視化技術

大米相關設備儀器
光源設備
硬度計
配件/耗材
試驗機
陶瓷制品
水質檢測設備
粉碎設備
超聲波設備
傳感器
物理性能檢測
其他設備
環境檢測設備
氣體檢測設備
加熱設備
電機
織物檢測設備
食品檢測設備
測量/計量儀器
電子/半導體行業設備
行業儀器

日本snk表面附著異物可視化技術

時間:2020-11-30閱讀:158
分享:
  • 提供商

    秋山科技(東莞)有限公司
  • 資料大小

    130.3KB
  • 資料圖片

  • 下載次數

    0次
  • 資料類型

    JPG 圖片
  • 瀏覽次數

    158次
點擊免費下載該資料

日本snk表面附著異物可視化技術

可視化技術,用于觀察粘附在表面的細小顆粒,異物或污垢

細顆粒可視化技術可用于以高靈敏度檢測光滑表面上的顆粒。另外,通過可視化由顆粒成分引起的熒光,可以每天處理表面異物和污垢。

如何使用散射光

高靈敏度細顆粒可視化技術是一種捕獲移動的細顆粒的散射光的技術。使用相同的原理,可以以高靈敏度檢測產品移動時表面上的異物和微弱的散射光。當使用激光時,它只能應用于光滑的產品,但是例如對于膠片,也可以通過可視化檢測張緊的位置。

用散射光感應產品表面上粘附的顆粒
使用散射光感測表面異物

如何一起使用熒光

附著在表面的異物和污垢可能會使從該組件發出的熒光返回。為了澄清熒光色,有必要設計要照射的光,但是如果使用特殊的濾光片將散射光截斷,則表面上的異物將非常鮮艷并且易于觀察。無論表面光滑度如何,此方法都可以可視化是否有光到達。可以免費租用“ D Light”(約2天)。請借此機會嘗試一下。

熒光色允許污染的熒光
使用熒光識別異物和污垢

利用表面粒子可視化技術的z佳解決方案

  • “ D Light”,一種工具,可以更容易地從表面的異物和污垢中看到熒光色
  • “ D Scope”是一種工具,可以捕獲細顆粒的各種信息,并通過捕獲弱熒光將其轉換為數據。
  • “ Parallel Eye F”是一種相對容易設置在要可視化的表面上的光源。
  • 可視化寬而光滑產品表面的z佳光源是“ Parallel Eye H”。
  • “ Parallel Eye D”是可視化不平坦表面并使熒光更加突出的z佳光源。
  • 具有于微粒檢測的靈敏度和功能的超高靈敏度相機是的超高靈敏度相機“ Eyescope”。
  • 圖像處理軟件包“ Particle Eye”,用于在計算機上實時圖像處理和視頻記錄
  • 當您要使用細顆粒可視化系統處理制造環境中的緊急問題時,可以提供現場評估服務
  • 在產品開發和公共關系等地點使用細顆粒可視化系統時的產品開發/公共關系支持服務

會員登錄

×

請輸入賬號

請輸入密碼

=

請輸驗證碼

收藏該商鋪

X
該信息已收藏!
標簽:
保存成功

(空格分隔,最多3個,單個標簽最多10個字符)

常用:

提示

X
您的留言已提交成功!我們將在第一時間回復您~
撥打電話
在線留言