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固體及薄膜表面Zeta電位分析儀

閱讀：466發布時間：2011-1-13

固體及薄膜表面Zeta電位分析儀
貝克曼庫爾特公司的 固體及薄膜表面Zeta電位分析儀，型號：DelsaNano C/Solid Surface，是*臺應用電泳光散射原理，通過測量探測粒子在電場中的運動特征而求得固體（或薄膜）與液體之介面Zeta電位的分析儀。該儀器的上市為固液介面特性的表征提供了一個全新的方法。開拓了一個可探索的包括薄膜、纖維等固體表面研究的新領域。
固體平面樣品的Zeta電位可以使用平面樣品池來測定。該樣品池的上壁為固體平面樣品的表面代替。由于樣品池上下壁表面的電荷有差異，樣品池中的電滲流變得不對稱。電滲流取決于安裝的樣品平面的表面電荷。可用Mori和Okamoto的方程來分析，以測定上壁（樣品）表面處的電滲流速度。可以通過表觀遷移率減去真實遷移率計算得出。樣品的表面Zeta電位可采用Smolochowski方程計算得出。因此固體平面樣品的Zeta電位可以被測量。


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