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Auto 色新型相調制橢圓偏振光譜儀

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱上海首立實業有限公司
  • 品       牌
  • 型       號auto se
  • 所  在  地
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2024/2/13 14:23:08
  • 訪問次數159
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上海首立實業有限公司成立于2002年,是美國SOLY在中國投資的集科、工、貿于一體的綜合性實業公司。目前在國內的主要有實驗室成套設備和生產工業用試劑兩大方面的業務。 其一:實驗室成套設備和實驗室工程方面,本公司是NIPPON DENSHOKU,HENKEL,SHEEN,DJH DESIGNS,TIMES,JICC,TPS,BLUE M,TABER,ERICHSEN等品牌的經銷商和售后服務承包商。主營NIPPONDENSHOKU色差儀、色度儀、色差計、濁度儀、水分儀、分光測色儀、光澤計、密度計;儀立信Erichsen杯凸設備、島津EDX720 X熒光光譜儀、HORIBA XGT-1000WR,TPS,Blue-M高溫烘箱、TSA101(102,103)自動彈出式烘箱、紫外老化箱、光澤計、DJH膜厚儀、DJH MEK摩擦實驗儀以及其它鹽霧、磨耗、氙燈曝曬老化、紅魔鬼振蕩混合器、HENKEL鋁合金表面鈍化劑、皮膜劑,Taber磨耗儀等等相關實驗室設備耗材及實驗室工程;我司為涂料實驗室、RoHS實驗室、彩鋼實驗室及通用實驗室提供一攬子解決方案。 其二:生產加工,首立實業保稅區工廠主要生產出口工業電子油、金屬表面保護劑、微動開關觸點保護脂和防銹劑等工業試劑和耗材。注冊商標牌號:Cu606銅表面防變色保護劑,GR601觸點保護脂,AU602金表面防變色保護劑,AG603銀表面防變色保護劑,SN604錫表面防變色保護劑,NI605鎳表面防變色保護劑,FE607防銹油,F608高效防銹脂,RoHSColor六價鉻顯色劑。 董事長語錄:“品質未來。” 經營理念:“以實力求生存、以改革求發展。” 公司使命:“掌握*技術、研發優質產品;積累經驗、優化服務。” 員工守則:“專業、專注、誠信、高效” 經營目標:“提升自己、服務客戶、回報股東、回報社會。” 公司自成立以來,憑借正確的經營理念,加之科學的管理方法,同美國、加拿大、德國、韓國、瑞典、瑞士、日本、中國香港及中國臺灣地區等眾多企業和社會團體建立了穩定長久的業務合作關系并樹立了良好的信用度和企業美譽度。 公司尊重知識、尊重人才,注重技術、追求創新。我們熱忱希望同海內外各屆人士及同行精誠合作、面向未來、共創多贏。首立實業歡迎您蒞臨洽談!首立實業誠邀您加盟!
Auto 色新型相調制橢圓偏振光譜儀
Auto 色新型相調制橢圓偏振光譜儀 產品信息

產品介紹

 

概要

Auto 色是一種新型的按鍵式全自動薄膜測量分析工具,簡單的幾個按鍵操作,即可完成全自動測量和分析。

幾秒鐘可完成樣品分析,并提供完整的樣品堆疊特性報告-包括薄膜厚度、光學常數、表面粗糙度和薄膜的不均勻性。

Auto 色 是一種高性能系統,它包括XYZ自動樣品臺、測量點實時成像和光斑尺寸自動選擇功能,其各種各樣的附件可滿足用戶對多種應用的需求。

Auto 色借助完整的操作向導,自動檢測并診斷問題、同時提供完整的操作指南,實現對故障進行輕松處理。

便捷的操作性能和大量自動化特性,使得 Auto 色 成為一種可用于常規薄膜測量和質量控制的設備。

特征

  • 薄膜分析變得輕松簡單
  • 高性能系統
  • *的光斑可視系統(技術)
  • 多種附件選擇
  • 智能診斷

Auto 色的可視化系統

Auto 色 集成了*的MyAutoView光斑可視系統(技術),該系統配備在標準橢圓偏振光譜儀中。

MyAutoView允許操作者全程觀測樣品光斑,以確保各種類型的樣品都能在正確的位置,以合適的光斑尺寸進行測量。

Auto 色 所提供的圖像有大約1毫米的視場和10微米的分辨率,這對于大多數測量來說是非常必要的。

 

 

樣品類型

MyAutoView光斑可視系統的優點

舉例

圖形化樣品

對圖形區域上的測量光斑直接觀測.

玷污樣品

直接觀測樣品上的測量光斑,以便選擇合適測量位置.

透明樣品

-只有前反射時,直接選擇
-當不能忽略背面反射時,計算背面反射度

粗燥樣品或不均勻表面的樣品 (有條紋、瑕疵)

直接觀測樣品的測量光斑,以便選擇合適測量點.

微結構樣品

直接觀測樣品上能夠表示0.8mm的細線特征的測量光斑.

圓柱狀或球形的樣品

直接觀測在這種區域上用于光斑定位的平面。右圖顯示,光斑大小沒有被優化到適合橢圓偏振的測量.

放在液體池、控溫臺等附件里的樣品

對于放在液體池里的樣品,測量定位變得非常容易(圖示樣品).

技術參數:

光譜范圍:440-858nm 

光斑尺寸: 500 µm x 750 µm; 500 µm x 500 µm; 250 µm x 500 µm; 250 µm x 250 µm; 70 µm x 250 µm; 100 µm x 100 µm; 50 µm x 60 µm; 25 µm x 60 µm 

測試時間:通常為5秒,可小于1秒
 
準確度:NIST 1000 Å SiO2 /Si: d ± 4 Å - n(632.8 nm) ± 0.002, Fu色d silica: n ± 0.004 

觀測樣品: CCD-視場范圍1.33*1mm,分辨率1µm 

重復性:± 0.2 Å  (測試條件 NIST 150 Å SiO2 /Si )

樣品臺尺寸:200mmX200mm;XYZ方向自動調節;真空檢測;Z軸高度50mm 

探測器:CCD-分辨率:2nm

測角儀:固定在70度,可預設為66度或者61.5度

關鍵詞:光譜儀
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