天津瑞利光電科技有限公司優勢經銷美國Thorlabs顯微鏡成像系統-LCC7201
美國Thorlabs顯微鏡成像系統-LCC7201
產品介紹：
平坦樣品中的延遲度和方位角（快速軸方向）的測量
在<15 s內測量直徑20mm的視場
包括三個用于直徑0.5英寸，直徑1英寸和2英寸x 2英寸光學元件的樣品架
LCC7201雙折射成像系統用于學術研究、醫療診斷、工業制造和產品質量保證，可以測量晶體和液晶設備等平整的平面樣品的相位延遲和方位角，非常適合檢測由應力引起的雙折射特性。由于該系統基于液晶器件，其內部沒有相對機械運動，從而在運行過程中非常穩定，毫無振動干擾。LCC7201工作的波長為633 nm，提供直徑20 mm的視場。該系統所測相位延遲范圍為半波長（max.316 nm），方位角范圍為±90°。此外，還可以定制波長范圍從405 nm到810 nm的工作波長。
參數：
光源波長：633 nm
延遲測量范圍
標準延遲范圍：0至316 nm
低延遲范圍：0至100 nm
方位角測量范圍：±90°
延遲測量
精度標準延遲范圍：<±10 nm
低延遲范圍：<±1 nm
方位角測量精度
標準延遲范圍：<±3°
低延遲范圍：<±1°
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