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芯片級試驗驗證全國6大專項實驗室

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具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱廣電計量檢測集團股份有限公司
  • 品       牌廣電計量
  • 型       號芯片試驗
  • 所  在  地廣州市
  • 廠商性質工程商
  • 更新時間2024/9/4 9:10:13
  • 訪問次數1620
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廣電計量檢測集團股份有限公司(簡稱:廣電計量)始建于1964年,于2019年11月8日登陸中小企業板, 于2019年上市,是廣州無線電集團旗下的第三家A股上市公司。

廣電計量是原電子602計量站,經過50余年的發展,現已成為一家全國化、綜合性的國有第三方計量檢測機構,專注于為客戶提供計量、檢測、認證以及技術咨詢與培訓等專業技術服務,在計量校準、可靠性與環境試驗、電磁兼容檢測等多個領域的技術能力及業務規模處于先進水平。

廣電計量的技術能力獲得了眾多國內外機構和組織的認可,通過了中國合格評定國家認可委員會認可(CNAS),獲得檢驗檢測機構資質認定(CMA)、農產品質量安全檢測機構(CATL)以及眾多政府和行業機構的認可資質,是“三品一標”檢測實驗室、全國土壤污染詳查推薦檢測實驗室、中國CB實驗室,出具的證書、報告具有公信力,可幫助客戶穩健開拓市場。

廣電計量構建了覆蓋全國的服務保障網絡,在國內建有23個計量檢測基地和50多家分子公司,實驗室總面積超過16萬平方米,配置國內外設備儀器30000多臺/套,搭建的全國一體化計量檢測與認證技術公共服務平臺,可迅速響應客戶需求,為客戶提供近距離、本地化的專業服務。

廣電計量打造了一支技術水平和服務意識俱佳的服務隊伍,現有員工4000多人,其中包括各領域專家和技術帶頭人50多人,博士后、博士33人,碩士近400人。

廣電計量建有技術研究院,在新能源汽車、軌道交通、無線通信等領域,先后主持編寫30多項計量測試標準及規程,承擔50多項國家、省部級等重點科研項目,獲得軟件著作權141項,積極推動了行業新技術的創新和產業化應用。

作為一家擁有高度社會責任感的國有企業,廣電計量以助推各區域經濟高質量發展、助力企業品質提升為己任。目前,廣電計量的服務能力覆蓋汽車、航空、軌道交通、船舶、通信、電力、電子電器、食品、環保、農業、醫療、石化等領域,憑借專業的計量檢測技術之力,廣電計量可幫助各行業產業鏈上下游客戶提升自身競爭力,實現產品全壽命周期的質量管控。

在品質決勝未來的發展新時代,廣電計量將繼續秉持科學、公正、準確、快捷、周到的服務理念,為高質量發展傳遞信任,為建設“和諧美麗”中國保駕護航!

 

 

 

 

環保監測,土壤檢測,水質檢測,噪音檢測,三廢檢測,計量校準,環境可靠性測試,化學材料檢測
加工定制 服務區域 全國
服務周期 常規3-5天 服務類型 元器件篩選及失效分析
服務資質 CMA/CNAS認可 證書報告 中英文電子/紙質報告
增值服務 可加急檢測 是否可定制
是否有發票
芯片級驗證,包括對汽車芯片進行電參數測試、功能驗證、性能評估、結構分析、環境適應性驗證、可靠性評價等能力。廣電計量芯片級試驗驗證全國6大專項實驗室可提供芯片封裝完整性全面測試,包含引線鍵合拉力,芯片粘接力,可焊性等,對芯片封裝可靠性進?更為科學的評估。
芯片級試驗驗證全國6大專項實驗室 產品信息

芯片級試驗驗證全國6大專項實驗室服務范圍

大規模集成電路芯片


檢測標準

●JESD22-A103/ A104/ A105/ A108/ A110

●J-STD-020

●JS-001/002

●JESD78


檢測項目

(1)芯片級可靠性驗證試驗:高、低溫壽命老化試驗,高、低溫存儲試驗,溫度(功率)循環、沖擊試驗,高溫高濕試驗,高加速應力試驗,芯片級機械測試試驗,推拉力測試。

(2)芯片靜電及閂鎖測試( ESD/LU):人體、機器放電模式測試及驗證(HBM/MM/TLP),系統 ESD、EOS 測試(IEC-ESD/Surge/EFT),元器件充放電模式測試(CDM),閂鎖測試(LU)。


相關資質

CNAS


芯片級試驗驗證全國6大專項實驗室服務背景

EUV制程工藝的高集成度芯片是新一代5G通信技術的核心。面向不同的5G應用場景的可靠性應用驗證是5G芯片推向市場應用的關鍵步驟,芯片級試驗驗證的需求越來越急迫,挑戰也越來越大。


我們的優勢

(1)提供面向多場景的芯片動態老煉測試(TDBI),為產品NPI階段提供專業和全面的?煉測試方案,解決動態?煉過程中?功耗芯片獨立溫控,矢量畸變和延時的眾多困擾;

(2)芯片封裝完整性全面測試,包含引線鍵合拉力,芯片粘接力,可焊性等,對芯片封裝可靠性進?更為科學的評估;

(3)芯片靜電及閂鎖測試,提供覆蓋人體/機器放電模式測試及驗證( H B M / M M / T L P )、系統E SD/ E O S測試( I E CESD/Surge/EFT)、元器件充放電模式測試(CDM)和閂鎖測試(LU)。



關鍵詞:芯片
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