DVIA-T使顯微鏡比以往更容易控制亞赫茲振動
DVIA-T將超精密儀器與1-10 Hz的環境振動隔離非常有效，振動敏感的精密儀器趨于不穩定和破壞性，無法產生結果。 DVIA-T在0.6Hz時開始隔離，在10Hz時提供±99％的隔振。

克服了被動隔振系統的局限性

由于主動隔振系統不具備固有頻率，因此主動隔振系統可以降低1-10 Hz的低頻振動，其中低頻振動會嚴重干擾納米級成像。 另一方面，無源隔離系統由于其固有頻率而放大低頻振動。

超剛性

由于主動隔離系統比被動隔離系統硬得多，所以隔離基礎平臺不像被動隔離基礎平臺那樣波動。 主動隔離系統大大增加了位置的穩定性，此外，剛度的改善提供了在平臺上設置各種應用的穩定性。

這很簡單。 只需插入即可

DVIA-T旨在為各種應用提供強大的即插即用操作系統。 即插即用系統不需要復雜的安裝或日常維護，壓縮空氣供應。 而且，用戶可以按下按鈕來操作整個系統。

實時監控

液晶顯示器允許用戶監視實時振動水平和平整狀態。

反饋和前饋控制系統

DVIA系列使用反饋控制系統連續檢測干擾隔離有效負載基座的振動，并即時作出反應，限度地減少實時振動。 DVIA系列采用前饋系統，以預定義的方式過濾地板振動

控制所有六個自由度的振動

安裝在主動隔振系統中的慣性傳感器和VCM執行器通過三個平移運動（X，Y和Z）以及三個旋轉運動（俯仰，滾轉和偏航）來檢測和控制振動。

緊湊，便攜式設計
最小尺寸為420 mm×500 mm×93 mm，重量只有25kg，使用戶可以將隔離單元安裝在任何地方。

DAEIL的隔音罩消除了嚴重干擾超精密儀器的聲學噪音，例如AFM顯微鏡。 當DVIA-T與隔音罩一起封閉時，其隔振性能。

應用

原子力顯微鏡、掃描探針顯微鏡、光學顯微鏡、共聚焦顯微鏡、熒光顯微鏡、高分辨率顯微鏡、微操作、干涉、輪廓、超精密秤、超精密計量