高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統
KSI Nano型超聲波掃描顯微鏡是擁有高分辨率的聲學顯微成像系統，它能對實測器件的表層缺陷作超高分辨缺陷檢測。
在使用100MHz——2000MHz的超高頻超聲波時，這種分辨率得以實現。
KSI nano 還包含一個倒置光學顯微鏡，在進行超聲波檢測前可利用它調整樣品的位置。
高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統還應用于世界各地的生命和物質科學研究。
- 換能器頻率范圍：100MHz——2000MHz頻率實現高分辨率
- 探測深度<100nm
- 特殊平均模式使信噪比更好
- 同步光學成像和超聲波成像使樣品在結構上、生物化學性能上和機械性能上具有關聯性。
- 光聲效應增強了對比性
- 放大倍數：1000倍
- 入射光顯微鏡和倒置光學顯微鏡可調節
深圳市藍星宇電子科技有限公司-專注歐美日多家高科技儀器設備廠家高性價比產品, 始終堅持創新, 技術, 服務, 誠信的企業文化，為廣大中國及海外客戶提供*的儀器設備和材料的整體解決方案。 應用范圍: 半導體/微納，光電/光學, 生命科學/生物醫療等領域的研發和應用, 客戶群體例如高等院校, 研究所，科技企業及醫療機構等。
